Chunglai Hung Probes Manufacturing Co., Ltd.

A sonda de teste de placa carregada é aplicada para examinar as placas de circuito carregadas. Os métodos comuns de teste para placas carregadas são TIC (In-Circuit Test) e FCT (Teste de Função). Ambos os métodos examinam o desempenho dos componentes e conexões de circuito para detectar os componentes defeituosos durante a produção. As TIC e a FCT garantem o funcionamento normal das placas de circuito carregadas através da avaliação do desempenho da conexão dos componentes de teste no ambiente replicado do campo de aplicação futuro e do controle do desempenho elétrico dos componentes para avaliar a conexão abrangente do circuito.

Especificação:
1. Centro recomendado min. : 3.0(.118")
2. Viagem completa: 10(0.393" )
3. Classificação atual: 8A
4. Resistência de contato: 50mΩ

Materiais e acabamentos:
1. Êmbolo: Latão, Au banhado
2. Barril: Latão, Ni banhado
3. Primavera: Inoxidável